Former Employee. SKI Pathology; Instructor
Kim, K.; Lee, K.; Cho, S.; Kang, D. U.; Park, S.; Kang, Y.; Kim, H.; Choe, G.; Moon, K. C.; Lee, K. S.; more... Medical Image Analysis (2023)
Ho, D. J.; Agaram, N. P.; Jean, M. H.; Suser, S. D.; Chu, C.; Vanderbilt, C. M.; Meyers, P. A.; Wexler, L. H.; Healey, J. H.; Fuchs, T. J.; more... American Journal of Pathology (2023)
Ho, D. J.; Chui, M. H.; Vanderbilt, C. M.; Jung, J.; Robson, M. E.; Park, C. S.; Roh, J.; Fuchs, T. J. Journal of Pathology Informatics (2023)