| Authors: |
Cavestro, G. M.; Mannucci, A.; Balaguer, F.; Heather, H.; Kupfer, S.; Repici, A.; Sartore-Bianchi, A.; Seppälä, T. T.; Valentini, V.; Boland, C. R.; Brand, R. E.; Buffart, T.; Burke, C. A.; Caccialanza, R.; Cannizzaro, R.; Cascinu, S.; Cercek, A.; Crosbie, E. J.; Danese, S.; Dekker, E.; Daca-Alvarez, M.; Deni, F.; Latchford, A.; Liska, D.; Lynch, P.; Malesci, A.; Mauri, G.; Meldolesi, E.; Pal, M.; Monahan, K. J.; Moslein, G.; Murphy, C. C.; Nass, K.; Ng, K.; Oliani, C.; Papaleo, E.; Patel, S.; Puzzono, M.; Remo, A.; Ricciardiello, L.; Ripamonti, C. I.; Siena, S.; Singh, S. K.; Stadler, Z.; Stanich, P. P.; Syngal, S.; Turi, S.; Urso, E. D.; Valle, L.; Vanni, V. S.; Vilar, E.; Vitellaro, M.; You, Y. N.; Yurgelun, M. B.; Zuppardo, R. A.; Stoffel, E. M.; on behalf of CGA-IGC, EHTG, INSIGHT, and AIFET |
389
351