| Authors: |
Bernard, E.; Nannya, Y.; Yoshizato, T.; Hasserjian, R. P.; Saiki, R.; Shiozawa, Y.; Devlin, S. M.; Tuechler, H.; Sarian, A.; Malcovati, L.; Sole, F.; Haase, D.; Creignou, M.; Levine, M.; Germing, U.; Cargo, C.; Zhang, Y.; Medina, J.; Arango Ossa, J. E.; Schanz, J.; van de Loosdrecht, A.; Jädersten, M.; Bennett, J. M.; Tobiasson, M.; Kosmider, O.; Follo, M. Y.; Thol, F.; Pinheiro, R. F.; Santini, V.; Kotsianidis, I.; Boultwood, J.; Santos, F. P. S.; Kasahara, S.; Ishikawa, T.; Tsurumi, H.; Takaori-Kondo, A.; Kiguchi, T.; Polprasert, C.; Klimek, V. M.; Savona, M. R.; Belickova, M.; Ganster, C.; Ades, L.; Della Porta, M. G.; Smith, A.; Werner, Y.; Patel, M. A.; Viale, A.; Vanness, K.; Neuberg, D. S.; Stevenson, K. E.; Menghrajani, K.; Bolton, K.; Fenaux, P.; Pellagatti, A.; Platzbecker, U.; Heuser, M.; Valent, P.; Chiba, S.; Miyazaki, Y.; Finelli, C.; Voso, M. T.; Shih, L. Y.; Fontenay, M.; Jansen, J. H.; Cervera, J.; Atsuta, Y.; Gattermann, N.; Ebert, B. L.; Bejar, R.; Greenberg, P. L.; Cazzola, M.; Hellstrom Lindberg, E.; Ogawa, S.; Papaemmanuil, E. |
147
245
71
613
212
203
43
51
38
35
35
50
2